高斯計(jì)的優(yōu)點(diǎn)就是可以測試大方塊不同位置的表場大小、小圓柱或圓片兩個(gè)端面的磁場大小,確定一塊(個(gè))產(chǎn)品磁性能的一致性。具體操作如下:測量之前應(yīng)根據(jù)說明書的要求進(jìn)行預(yù)熱,然后檢查、調(diào)整零點(diǎn),使得非測量狀態(tài)下的示值為"0"。
發(fā)布時(shí)間:2020-05-23 新聞來源:【高斯計(jì)_特斯拉計(jì)_霍爾探頭】生產(chǎn)廠家
高斯計(jì)的優(yōu)點(diǎn)就是可以測試大方塊不同位置的表場大小、小圓柱或圓片兩個(gè)端面的磁場大小,確定一塊(個(gè))產(chǎn)品磁性能的一致性。具體操作如下:測量之前應(yīng)根據(jù)說明書的要求進(jìn)行預(yù)熱,然后檢查、調(diào)整零點(diǎn),使得非測量狀態(tài)下的示值為"0"。
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